SANS FOR585: Smartphone Forensic Analysis In-Depth

Riparte la stagione della formazione, anche in casa SANS. Pensati per professionisti, operatori e studenti di cybersecurity che vogliano potenziare le proprie capacità o acquisirne di ulteriori, i corsi SANS offrono programmi costantemente aggiornati, frequenti laboratori Hands-on e una forensic challenge finale per mettere alla prova le nuove abilità acquisite.

Tra questi, dal 15 al 20 novembre, si terrà a Roma il corso FOR585: Smartphone Forensic Analysis In-Depth. Un’immersione nel panorama della mobile forensics e in particolare degli smartphone, onnipresenti strumenti del nostro quotidiano che – sempre più spesso – si rivelano fonti cruciali in ambito di indagini forensi.

Partendo dall’esame delle principali applicazioni, componenti, protocolli crittografici e sistemi operativi, il corso esporrà le tecniche più evolute per l’analisi ed estrazione dei dati contenuti nei dispositivi mobili, con un focus su malware e spyware di ultima generazione, includendo esercitazioni mirate e attività pratiche in campo di Detection e Incident Response. A completamento del percorso formativo gli iscritti avranno la possibilità di ottenere la prestigiosa certificazione GASF: GIAC Advanced Smartphone Forensics.

In cattedra ci sarà Mattia Epifani, CEO di Reality Net System Solutions, ricercatore presso il CNR, membro del consiglio direttivo di ONIF (Osservatorio Nazionale Informatica Forense) e DFA (Digital Forensics Association), analista informatico e consulente di lunga esperienza in campo investigativo e giudiziario, che ha conosciuto il mondo SANS in veste di studente per poi arrivare a diventarne uno dei formatori più apprezzati; come testimoniano i partecipanti alle precedenti edizioni, apprezzandone la capacità di stimolare ogni studente ad acquisire e perfezionare un “metodo” tutto proprio.

 

Le iscrizioni sono aperte, il corso si svolgerà in presenza, prevedendo accorgimenti volti alla tutela della sicurezza di tutti i partecipanti.

 

Ulteriori approfondimenti:

 

A cura di Adam Jones, Director – Italy, SANS Institute, EMEA
p: +447917416817 | e: ajones@sans.org | w: http://www.sans.org/emea

 

 

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